واصل اللواء خميس مطر المزينة، نائب القائد العام لشرطة دبي، والوفد المرافق له، جولتهم للاطلاع على المختبرات العالمية، بزيارة مختبر وزارة الأمن القومي في واشنطن، وكان في استقبالهم شارلز باكستر مدير المختبر ومساعد الملحق لشؤون الهجرة.
وتناول اللقاء الذي حضره أعضاء الوفد، العقيد فهد سيف سلطان المطوع مدير الإدارة العامة للأدلة الجنائية وعلم الجريمة والخبير الأول الدكتور فؤاد علي تربح مدير إدارة التدريب والتطوير والأبحاث والرائد الخبير الأول حسين الغانم خبير البيولوجي والـDNA، بحث عدد من المواضيع ذات الاهتمام المشترك وتبادل الخبرات والدورات ومناقشة سبل تطوير وتعزيز التعاون.
تطوير العلاقات
وأكد المزينة ان الزيارة تأتي عقب زيارات سابقة لعدد من المختبرات الجنائية في الولايات المتحدة الأميركية وبريطانيا، وهولندا حرصا من شرطة دبي على جعل المختبر الجنائي الجديد التابع للإدارة العامة للأدلة الجنائية وعلم الجريمة منافسا للمختبرات الشرطية العالمية، وتطوير علاقات الشراكة في مجالات الكشف عن الجريمة ومكافحتها.
واستمع المزينة والوفد المرافق إلى شرح تفصيلي عن مهام المختبر التي تتركز على فحوص صلاحية الوثائق الرسمية والجوازات والبطاقات الشخصية وبطاقات الائتمان. وعقب اللقاء قام المزينة والوفد المرافق بجولة في أقسام فحص المستندات وقسم فحوص إظهار البصمة وقسم الفحوص الكيميائية والفيزيائية وطبيعة عمل كل قسم وتعرفوا على أحدث التقنيات المستخدمة في الكشف عن تزوير المستندات واطلعوا على المكتبة الخاصة بالمستندات المرجعية الإلكترونية.
