ترأس المقدم الخبير الأول ناصر الشامسي، مدير إدارة المختبر الجنائي، رئيس فحص آثار الأسلحة والآلات بالقيادة العامة لشرطة دبي، وفد دولة الإمارات العربية المتحدة المشارك في المؤتمر السنوي العالمي الرابع والثلاثين حول الميزات الجنائية لآثار الأسلحة والالآت بمدينة بافلو بنيويورك.
ويضم الوفد الملازم النقيب عبد الله حمود الحبسي من القيادة العامة لشرطة أبوظبي، والملازم أول سيف بن سويف من وزارة الداخلية، والملازم مساعد الخبير ماجد القصير، ومساعد الخبير مريم خلف من المختبر الجنائي في شرطة دبي.
وأوضح المقدم الخبير الأول ناصر الشامسي أن دولة الإمارات العربية المتحدة دأبت على المشاركة بالمؤتمرات العلمية العالمية في مجالات علوم الجريمة بتصنيفاتها المتعددة، وذلك لأهمية هذه المؤتمرات في صقل المهارات الموجودة والخبرة المتراكمة في مجالات علوم الجريمة المتطورة باطراد مع تطور الحياة في مختلف مجالاتها وانتشار الوسائل التكنولوجية الحديثة وغيرها من الأساليب والوسائل المستحدثة التي يجتهد خلالها الجناة في تحقيق مآربهم بعيدا عن قبضة الأجهزة الأمنية التي تترصد لهم باستمرار.
وأكد الشامسي أن هذا المؤتمر يعد أحد ابرز الملتقيات العالمية لخبراء فحص آثار الأسلحة والآلات وعلى مستوى عالمي، حيث يقدم للخبير وجبة علمية غنية لآخر المستجدات في بحر فحص آثار الأسلحة والآلات، وبصمات الأسلحة والقضايا المستحدثة على مستوى العالم، وأبرز الأساليب الحديثة المستخدمة في تتبع الأثر، وذلك من خلال أوراق العمل المقدمة والورش العلمية المصاحبة للمؤتمر.
وأشار الشامسي إلى أن الخبراء المشاركين من إدارة المختبر الجنائي في شرطة دبي سينتقلون إلى مؤسسة (فرنسك) الشركة المصنعة لجهاز بصمة السلاح في مدينة مونتريال بكندا للحصول على تدريب عملي حول مهارات استخدام هذا الجهاز.